一、校準前：做好基礎準備，排除前置干擾

1. 確認校準環境符合要求，避免環境影響校準基準
   校準過程依賴 “標準磁通源"（如標準線圈 + 直流電流源）產生精確的參考磁通，環境干擾會同時影響標準源和磁通計，導致校準結果失真。需重點控制：

• 磁場環境：校準區域 1 米內無強磁體（如永磁體、電磁鐵）、大功率電磁設備（如變壓器、變頻器），避免外部磁場疊加到標準線圈的磁場中，導致參考磁通不準確；若無法避開，需搭建軟磁屏蔽室（用純鐵或坡莫合金制作），將標準源與磁通計一同放入屏蔽室。

• 溫濕度與振動：環境溫度控制在20±2℃（溫度波動會改變標準線圈的電阻，影響電流精度），相對濕度≤60% RH（高濕度可能導致標準源電路受潮短路）；校準臺需穩固、無振動（振動會導致磁通計指針晃動，無法穩定讀數），必要時使用防震墊。

2. 檢查設備狀態，確保硬件wu故障
   校準前需排查磁通計和標準源的硬件問題，避免因設備損壞導致校準無效：

• 磁通計側：檢查指針是否靈活（輕輕撥動指針，應能自由回零，無卡頓）、懸絲是否斷裂或變形（懸絲損壞會直接導致測量失效）、接線端子是否氧化（氧化會增加接觸電阻，影響信號傳輸），若有問題需先維修再校準。

• 標準源側：確認標準線圈的匝數、有效面積等參數與校準需求匹配（如校準量程為 0~10mWb 的磁通計，需選用量程覆蓋 10mWb 的標準線圈），檢查標準電流源的輸出穩定性（開機預熱 30 分鐘后，輸出電流波動應≤0.1%），確保參考磁通的精度滿足 “校準源精度高于被校磁通計 3~5 倍" 的計量要求（如被校磁通計精度為 1%，標準源精度需≥0.2%）。

3. 預熱設備，減少參數漂移
   磁電式磁通計的機械部件（如懸絲彈性）、標準源的電子元件（如電流源的放大器）會隨通電時間穩定，冷態下直接校準易因參數漂移導致誤差。

• 磁通計和標準源需提前通電預熱 30~60 分鐘（按設備說明書要求），預熱期間保持環境溫度穩定，避免頻繁開關設備。

二、校準中：規范操作流程，控制校準誤差

1. 先進行零點校準，消除基線偏移
   零點偏移是磁電式磁通計的常見誤差，若不先校準，會直接疊加到后續的標準磁通測量中，導致校準結果偏差。

• 操作步驟：斷開磁通計與標準線圈的連接（確保無任何磁通輸入）；調節磁通計的 “零點調節旋鈕"，使指針精準指向標尺零位；停留 5~10 分鐘，觀察指針是否仍穩定在零位（若偏移超過 1 格，需重新校準零點），確認零點無漂移后再進入正式校準。

2. 按 “從低到高" 的量程順序校準，避免機械沖擊
   磁電式磁通計的可動線圈承受能力有限，若先校準大量程（如直接輸入 10mWb 的標準磁通），可能因線圈偏轉角度過大導致懸絲拉伸變形；按低量程→高量程的順序校準，可讓線圈逐步適應偏轉，減少機械損傷風險。

• 示例流程（假設磁通計量程為 0~2mWb、0~5mWb、0~10mWb）：

1. 先校準 0~2mWb 量程：通過標準電流源向標準線圈輸入電流，產生 0.5mWb、1.0mWb、1.5mWb、2.0mWb 的標準磁通，記錄磁通計的指針讀數，計算每個點的誤差（誤差 =（讀數 - 標準值）/ 標準值 ×100%）。

2. 再依次校準 0~5mWb、0~10mWb 量程，每個量程至少選取 3~5 個校準點（覆蓋量程的 20%、40%、60%、80%、100%），確保全量程精度達標。

3. 穩定后讀數，避免慣性與視差誤差
   校準過程中，標準磁通輸入后，磁通計指針需經歷 “偏轉→穩定" 的過程，且讀數時的視差會直接影響結果準確性，需重點控制：

• 穩定讀數：輸入標準磁通后，等待指針wan全靜止（通常需 3~5 秒，無明顯晃動），再記錄讀數；若指針存在輕微抖動（如受環境振動影響），可讀取 10 秒內的平均值，減少隨機誤差。

• 消除視差：讀數時保持視線與標尺垂直（若磁通計帶反射鏡標尺，需讓指針與鏡中指針像wan全重合），避免側視導致的讀數偏差；建議由同一人完成所有校準點的讀數，減少人員操作差異帶來的誤差。

4. 避免接線錯誤，確保信號傳輸正確
   磁電式磁通計與標準線圈的接線錯誤（如正負極接反、接觸不良）會導致指針反向偏轉或無響應，甚至損壞設備，需格外注意：

• 按設備標識接線：磁通計的 “輸入端子"（通常標有 “+"“-"）與標準線圈的對應端子連接，確保極性一致（若接反，指針會反向偏轉，需調換接線后重新測量）。

• 檢查接線接觸：接線時確保端子擰緊，避免虛接（虛接會導致感應信號衰減，指針偏轉偏小）；校準過程中禁止觸碰連接線，防止接線松動影響校準。