電鍍分析儀的工作原理并非單一模式,而是根據其檢測目標(如成分、厚度、性能),采用分光光度、電磁感應、電化學等多種不同技術,核心是通過特定物理或化學反應,將檢測對象的特性轉化為可量化的信號并分析。
你這個問題問到了根本,理解原理能更清楚不同分析儀的適用場景。不同功能的電鍍分析儀,其工作原理差異較大,以下按核心檢測類別分別說明。
這類儀器主要用于檢測電鍍液中金屬離子、添加劑等的濃度,核心是利用物質的化學或光學特性進行定量分析。
分光光度法原理:讓特定波長的光穿過電鍍液樣本,樣本中的目標物質(如鎳離子)會吸收部分光。通過測量光的吸收程度,再對比標準濃度溶液的吸收曲線,就能計算出樣本中目標物質的濃度。
滴定法原理:向電鍍液樣本中滴加已知濃度的化學試劑(滴定劑),直到兩者發生特定化學反應(如顏色變化)。根據消耗的滴定劑體積,結合化學方程式,反向計算出樣本中目標物質的含量。
原子吸收光譜法原理:將樣本霧化后引入高溫火焰,目標金屬原子會吸收特定波長的光。吸收強度與原子濃度成正比,以此確定樣本中金屬離子的濃度,精度高于分光光度法。
這類儀器無需破壞鍍層,通過電磁、射線等物理場與鍍層的相互作用來測量厚度,是應用zui廣泛的類型之一。
磁性法原理:僅適用于 “磁性基體(如鐵、鋼)上的非磁性鍍層(如鎳、鉻)"。儀器發射磁場,鍍層厚度不同會導致磁場強度變化,通過檢測磁場變化量,與標準厚度的磁場數據對比,得出鍍層厚度。
渦流法原理:適用于 “非磁性基體(如鋁、銅)上的導電鍍層"。儀器探頭產生交變磁場,會在鍍層中感應出渦流,渦流強度與鍍層厚度相關。通過檢測渦流的變化,計算出鍍層厚度。
X 射線熒光法原理:向鍍層發射 X 射線,鍍層中的原子會發出特征熒光。不同元素的熒光波長和強度不同,通過檢測這些熒光信號,既能確定鍍層的元素組成,也能計算出厚度,精度ji高但成本較高。
這類儀器通過模擬實際使用環境或施加外力,評估鍍層的耐用性和結合力。